Mitutoyo
FS70 SERIE 378 — Unidad de microscopio para inspección de semiconductores MITUTOYO
FS70 SERIE 378 — Unidad de microscopio para inspección de semiconductores MITUTOYO
SKU:378-184-1
Descripción:
- Unidad de microscopio compacto equipada con una sección de observación ocular.
- Puede usarse con láseres YAG (infrarrojo cercano, visible, ultravioleta cercano o ultravioleta).*El rendimiento y la seguridad de los productos de sistemas equipados con láser no están garantizados.
- Utilizable en sistemas ópticos infrarrojos. Aplicaciones: observación de obleas de silicio; Análisis de características espectrales mediante infrarrojos. Se necesitan una fuente de infrarrojos y una cámara de infrarrojos
Especificaciones:
Servicio de Calibración
CALIBRAMOS EQUIPOS DE MEDICIÓN DE MAGNITUDES:
- Dimensionales
- de Dureza
- de Torque
- de Temperatura
- de Humedad
- Eléctricas
- de Tiempo y Frecuencia
- de Masa
- de Presión
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CATÁLOGO MITUTOYO
Catálogo MitutoyoExplora el Catálogo Mitutoyo para obtener información detallada sobre los productos que ofrecemos.
Este recurso te brindará una visión completa de nuestra gama de productos, características y especificaciones técnicas.
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NosotrosExplora los valores fundamentales que guían nuestra empresa al conocer a fondo nuestra visión y misión corporativa.
Sumérgete en la esencia de nuestra organización para comprender cómo nos esforzamos por marcar la diferencia en cada paso que damos.
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Calibraciones y ReparacionesTambién ponemos a su disposición nuestro servicio de reparación de instrumentos de medición y precisión de cualquier marca. Contamos con técnicos capacitados, refacciones y garantía en nuestros trabajos.
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